Wetenschappers van de UT hebben een methode gevonden om één enkel defect op een computerchip te ontdekken en te bestuderen. Dat staat gelijk aan het vinden van een speld in een hooiberg. Een chip bevat enorme hoeveelheden transistoren, die gewoonlijk miljoenen kleine foutjes bevatten. Deze zijn tot nu toe alleen per grote groep te onderzoeken.
Deze kennis is volgens de universiteit op termijn zeer belangrijk voor de verdere ontwikkeling in de halfgeleiderindustrie. De onderzoeksresultaten van het instituut Mesa+ zijn vandaag gepubliceerd in het wetenschappelijke tijdschrift Scientific Reports.
Kleine defecten
Computerchips bevatten doorgaans extreem veel kleine defecten. Tien miljard defecten per vierkante centimeter is niet ongebruikelijk. Het merendeel van deze defecten levert geen enkel probleem op in de praktijk, maar het grote aantal defecten zorgt ervoor dat met de bestaande technologie verdere miniaturisering van chips nauwelijks meer mogelijk is. Het is dus van groot belang om tot in detail te kunnen onderzoeken hoe de defecten ontstaan, waar ze zich bevinden en hoe ze zich gedragen.
Kranen
De UT-onderzoekers, onder leiding van dr. ir. Floris Zwanenburg, maakten in het onderzoek gebruik van een soort kranen, die onder extreme kou (min 270 graden Celsius) nog werken. Door kranen open of dicht te zetten, konden ze zien waar het lekte , dus onder welke elektroden er defecten zaten.
© Newsroom Enschede, de samenwerking tussen TC Tubantia en TV Enschede FM